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HORIBA堀场SEF‑Z544MGX数字质量模块流量计

简要描述:HORIBA堀场SEF‑Z544MGX数字质量模块流量计阀热式质量流量计,无内置调节阀门,仅实现气体质量流量测量与数据输出。搭载 MG 多气体多量程功能,软件端可切换气体种类与满量程规格,无需拆卸管路。中大流量段测量数据稳定,通讯支持模拟量

基础信息

产品型号

SEF‑Z544MGX-

厂商性质

经销商

更新时间

2026-09-03

浏览次数

65
详细介绍
品牌HORIBA/堀场价格区间1万-3万
产品种类质量式介质分类气体
产地类别进口应用领域半导体,机械设备

产品简介

SEF‑Z500X 系列为无阀热式质量流量计,与 SEC‑Z500X 控制器共用传感本体,内部没有调节阀,仅完成气体质量流量测量、数据输出。搭载 MG 多气体多量程功能,软件端可直接切换气体种类与满量程规格,无需拆卸管路。采用多项式线性补偿算法,测量精度稳定。全金属流路 SUS316L 电解超净抛光,氦检漏指标优异。多通讯协议可选,适合气路监测、旁路流量采集、闭环系统流量反馈、产线比对校验场景,常与外部调节阀搭配使用。

产品特点

  1. MG 多气体多量程功能,不拆管路即可切换气体参数与满量程,降低备件库存,缩短工艺换型调试时间。

  2. 无阀结构,只做流量测量采集,不具备流量调节关断功能,适配旁路监测、比对校验、流量反馈采集场景。

  3. 多项式线性补偿,25‑100% FS 精度 ±1.0% S.P;≤25% FS 精度 ±0.25% FS,全测量区间数据稳定。

  4. 流量测量范围 0‑100% FS,小流量信号解析能力强,可捕捉低流量段真实流量变化。

  5. 多协议通讯兼容,模拟、RS‑485、DeviceNet、EtherCAT 可选,兼顾老设备改造以及新建设备。

  6. 全金属流路电解超净抛光处理,氦检漏性能优异,微粒析出少,适配高纯、部分腐蚀性半导体工艺气体。

  7. 内置运行数据存储,记录压力温度极值、累计流量,方便流量统计、设备状态评估。

各基础机型区分

SEF‑Z514MGX

微流量测量机型,MR‑MG #R01‑#R04;氮气当量 5‑500SCCM,微量气路监测、ALD、离子注入回路流量采集。

SEF‑Z524MGX

中小流量通用测量机型,MR‑MG #R03‑#R06;氮气当量 500SCCM‑10SLM,刻蚀、CVD 旁路流量监测。

SEF‑Z534MGX

中流量测量机型,MR‑MG #R05‑#R08;氮气当量 3‑30SLM,工艺气配比回路流量采集。

SEF‑Z544MGX

中大流量测量机型,MR‑MG #R07‑#R10;氮气当量 10‑100SLM,腔体吹扫回路流量监测。

SEF‑Z554MGX

大流量测量机型,MR‑MG #R09‑#R11;氮气当量 100‑200SLM,大载气气路流量采集校验。

SEF‑Z564MGX

超大流量测量机型,MR‑MG #R11‑#R12;氮气当量 200‑500SLM,超大腔体气路流量监测。

流量依靠 MR‑MG 档位 #R01‑#R12 划分量程;硬件流路一致,差异为满量程规格;对应带阀控制版本为 SEC‑Z514MGX~SEC‑Z564MGX。

通用技术参数

测量原理:热式毛细管传感测量区间:0‑100% FS接液材质:SUS316L EP 电解抛光、钴镍合金阀结构:无内置控制阀通讯接口:模拟 0‑5V、RS‑485、DeviceNet、EtherCAT 可选供电:24VDC耐压:1000kPa (G);氦检漏≤5×10⁻¹²Pa・m³/s精度:±1.0% S.P(>25% FS);±0.25% FS(≤25% FS)重复性:≤±0.2% FS工作环境:5‑50℃,推荐 15‑45℃,20‑80% RH 无凝露存储温度:0‑80℃状态记录:压力温度极值、超长、总运行时长、累计流量

应用场景

半导体气路旁路流量监测、工艺回路流量比对校验;CVD、刻蚀设备流量采集反馈;第三代半导体;MEMS 器件制造;光伏设备气路监测;特种气体实验平台流量计量;存量产线增加流量监测点位改造。

HORIBA堀场SEF‑Z544MGX数字质量模块流量计HORIBA堀场SEF‑Z544MGX数字质量模块流量计

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